加热物体并将俘获在晶格缺陷中的电子释放出来，就能产生^*发光(luminescence)。这一现象用于年代测定，尤其用于测定陶瓷的年代。标本被烘烤加热后俘获电子的数目被认为与^*致电离辐射(ionizing radiation)的数量有关，因为晶格缺陷是由电离辐射引起的，也和其年代有关。这样通过测量加热时辐射光的量，标本的年代便可确定。