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单词 atomic force microscope
释义
atomic force microscope     原子力显微镜AFM

一种高分辨率显微镜。用弹簧臂上的精细钻石探针慢慢扫描样品。连续测量针尖和样品表面的循迹力,调整探针高度以保持恒力。通过电脑制作物体表面的等高线图具有可分辨单个原子的能力。绝缘样品也可使用这一技术,如生化分子。参见“扫描隧道显微镜”(scanning tunnelling microscope)。

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